崔亮的译文1

      分类一 2005-5-19 18:21
电压耦合元件交叉测量系统对增加目标可捕性概率方法的研究
罗武生 卢海宝 陈晓路 杨华勇
中国 长沙 国际技术大学 机械电子及自动化学院 410073
E-mail:S803gd@nudt.edu.cn Phone:86-731-4574998
摘要
这篇论文关于在电压耦合元件(CCD)测量系统的交叉处对增加目标的可捕性概率摆出了一些方法,第一个方法是以多样的CCD的交叉测量为基础,这个测量可以根据概率性理论获得较高的目标的可捕性概率。选择CCD从这一观点的角度出发,基于TDI-CCD上的交叉测量的方法被讨论研究了,另一种方法是设计一种大体积的数据循环记忆库以确保目标的信息不丢失并且让加工处理程序有足够的时间去加工和认识这个目标,这样目标的可捕性概率就被大大的提高了,最后一种增加目标投影厚度的方法是致力于延长通过目标的时间和改善图象的质量以提高目标的可捕性概率
Ⅰ.介绍
作为一种新的非接触的光电测量方法,CCD交叉测量的技术近来已经得到快速的发展,并且成功的应用于大量不断运动的目标的测量,然而,由于传统的CCD交叉测量的方法较低的目标可捕性概率,它不能满足测量和测试高速度,小尺寸目标的要求,为了增加CCD交叉测量系统的目标可捕性概率,这篇论文摆出四种方法。
Ⅱ.多样的CCD交叉测量方法
A.    多样CCD交叉方法的建议
多样CCD交叉方法被摆出的原因是,传统CCD交叉测量的方法由于它的低目标可捕性概率不能满足测量和测试高速度,小尺寸目标的要求,从实验中我们可以发现,单一的CCD在大量目标投影条件写对测试高速度,小尺寸目标有较低的目标可捕性概率,然而,只有当个CCD同时捕获到目标时,目标投影的这一点的坐标数值在目标通过它时表现了出来。
基于两个CCDs交叉测量的理论,如果一个系统包含N个CCDs,并且每两个CCDs组成一个辅助目标投影,C =N•(N-1)/2交叉处辅助目标的投影就可获得。假设单一CCD的目标可捕性概率是P1,这个系统的目标可捕性概率PN,即
PN=1-C(1-P1)N-C(1-P1)N-1•P1=1-(1-P1)N-N•(1-P1)N-1•P1 (1)
表1列出在不同条件下的目标可捕性概率,P1是单一CCD的目标可捕性概率,P2是两个CCDs交叉系统的目标可捕性概率,P3是3个CCD交叉系统的目标可捕性概率。
表1 目标可捕性概率的比较



从上面的表格我们可以发现3个CCDs交叉系统或多样CCDs交叉系统比2个CCDs的交叉系统有较高的目标可捕性概率
B.    多样CCDs交叉测量系统的机械模型
一般说来,多样CCDs交叉系统采取了一种命名叫“在间隔同期上的多样CCD交叉的草图,且如图1中所示,在同期圆的中心,这些CCDs的光学轴都投影在同一位置上,两个邻行的CCD的轴之间是角θ0=2π/n.假设n个照相机的焦点长度为f。我们常常把n个CCDs分别叫做CCD0﹑…﹑CCDi﹑…﹑CCDj﹑…﹑CCD(n-1)。
很清楚,半径R是由目标交叉处可见区域的效果决定的,根据上述的分析,
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